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T/CIET 1282-2025 反应烧结碳化硅 碳化硼陶瓷板技术要求

  • 文件大小:2.19 MB
  • 标准类型:团体标准规范
  • 标准语言:中文版
  • 文件类型:PDF文档
  • 更新时间:2025-06-22
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资料介绍

​T/CIET 1282-2025《反应烧结碳化硅/碳化硼陶瓷板技术要求》主要内容总结​

​1. 范围​

本文件规定了反应烧结碳化硅(SiC)和碳化硼(B₄C)陶瓷板的技术要求、试验方法、检验规则及标志包装等,适用于防护、工业等领域使用的该类陶瓷板产品。


​2. 规范性引用文件​

引用多项国家标准和军用标准,包括:

  • ​GB/T 191​​(包装储运图示标志)
  • ​GB/T 6569​​(精细陶瓷弯曲强度试验方法)
  • ​GB/T 16534​​(精细陶瓷室温硬度试验方法)
  • ​GB/T 25995​​(密度和显气孔率试验方法)
  • ​GJB 179A​​(抽样检验标准)

​3. 术语与定义​

  • ​反应烧结碳化硅​​:以α-SiC为基体,通过硅渗透反应生成β-SiC,形成高致密陶瓷。
  • ​反应烧结碳化硼​​:以B₄C粉体为基础,添加碳/碳化硅,与硅反应生成β-SiC,形成致密材料。

​4. 技术要求​

​4.1 力学性能​
材质 密度(g/cm³) 维氏硬度(HV0.5) 抗弯强度(MPa)
反应烧结碳化硅 ≥3.0 ≥2200 ≥300
反应烧结碳化硼 ≥2.55 ≥2800 ≥300
​4.2 扭曲变形量​
  • 两种陶瓷板的扭曲变形量均需≤5%。
​4.3 尺寸及公差​
  • ​通用公差​​:厚度≤±0.2mm,宽度≤±1.5mm,长度≤2mm。
  • ​碳化硼专用​​:对角偏差≤0.8mm,厚度偏差≤0.2mm。
  • ​人体防护陶瓷尺寸​​(分小号、大号,具体尺寸可定制)。
​4.4 外观缺陷分类​
  • ​主要缺陷​​(直接不合格):分层、贯穿裂纹、缺角面积≥50mm²、斑点直径≥5mm。
  • ​次要缺陷​​(允许≤3个):缺角面积<50mm²、边缘非贯穿裂纹<5mm、斑点直径<5mm。

​5. 试验方法​

  • ​密度​​:按GB/T 25995检测。
  • ​硬度​​:按GB/T 16534(维氏硬度)。
  • ​弯曲强度​​:按GB/T 6569(三点弯曲法)。
  • ​扭曲变形量​​:用基准板和铁块塞尺检测(如3mm铁块无法塞入即合格)。
  • ​外观​​:缺角/裂纹用0.05mm量具;斑点/分层用X光无损检测仪。

​6. 检验规则​

​6.1 检验分类​
  • ​出厂检验​​:每批必检外观、密度;硬度/强度按需抽检(如工艺变更或客户要求)。
  • ​型式检验​​:工艺重大变更、年度例行、停产复工等情况下进行。
​6.2 抽样方案​
  • 按GJB 179A执行,采用一般检验水平II级,一次抽样:
    • ​主要缺陷​​ AQL=1.5(如裂纹、分层)。
    • ​次要缺陷​​ AQL=4.0(如小斑点)。
  • ​判定规则​​:任一项目不合格则整批暂停,整改后复检。

​7. 标志、包装与贮存​

  • ​标志​​:铭牌需含型号、出厂编号、日期。
  • ​包装​​:
    • 符合GB/T 191,标注“易碎”“防潮”等标识。
    • 单箱≤200kg,附合格证、说明书、装箱单。
  • ​运输​​:防震、防雨淋、轻拿轻放。
  • ​贮存​​:通风库房,避免腐蚀性环境,保质期1年(超期需重新检验)。

​其他信息​

  • ​归口单位​​:中国国际经济技术合作促进会。
  • ​起草单位​​:中国兵器工业集团第五二研究所、浙江立泰等。
  • ​首次发布​​:2025年5月14日实施。

​注​​:文件可能涉及专利,但发布机构不承担专利识别责任。

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