T/CSP 13-2024 T/BSPT 6-2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
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- 更新时间：2025-03-07
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资料介绍
本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。
本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。上一篇：T/CSP 12-2024 颗粒技术 硅泥中硅颗粒回收工艺规范 熔炼法
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本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。