您当前的位置：首页 > YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 > 下载地址1
YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
- 英文名称：Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon material-Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
- 下载地址：[下载地址1]
- 提 取 码：du2z
- 浏览次数：3
发表评论 加入收藏夹 错误报告目录| 新闻评论（共有 0 条评论） |
资料介绍
本标准规定了电感祸合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定，测定范围见表1。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定，测定范围见表1。